IQSCAN W21 — фото поставщика
200 В – 30 кВ
Базовый напольный СЭМ
Напольный СЭМ с термоэмиссионным вольфрамовым катодом для исследования поверхности и микроструктуры образцов.
Сканирующий электронный микроскоп

IQSCAN W21

Кому подходит это решение

Электронная микроскопия
Металлография
Материаловедение
Микроэлектроника
Покрытия
Порошки и частицы
Научные лаборатории
Контроль материалов

Ключевые преимущества IQSCAN W21

Увеличение и разрешение выбирают по задаче и модели.

Масштаб исследования

Масштаб исследования
Предметный столик задаёт положение образца в камере.

Работа с образцами

Работа с образцами
Сканирование электронным пучком показывает детали поверхности.

Электронное изображение

Электронное изображение
Моторизованное перемещение X/Y/Z для выбора участка.

Вакуумная система

Вакуумная система
ПО сохраняет настройки съёмки и изображения.

Управление и данные

Управление и данные
Детекторы SE и BSE помогают исследовать рельеф и различия материала.

Контраст сигнала

Контраст сигнала
IQSCAN W21 — фото поставщика

Практические задачи

Схема задачи: Металлографический шлиф
Изучить микроструктуру и локальные участки.

Металлографический шлиф

Схема задачи: Частицы порошка
Оценить форму и распределение размеров.

Частицы порошка

Схема задачи: Поверхность покрытия
Исследовать рельеф, дефекты и неоднородности.

Поверхность покрытия

Схема задачи: Электронный компонент
Изучить детали конструкции и состояние поверхности.

Электронный компонент

Как проходит СЭМ-исследование

Определяют материал, размеры и задачу.

Образец

1
Сохраняют условия и изображения.

Результат

5
Выбирают крепление и состояние поверхности.

Подготовка

2
Задают напряжение, детектор и увеличение.

Съёмка

3
Исследуют изображение и выбранные участки.

Анализ

4

Метод и измерительная система

Электронно-оптическая колонна формирует изображение поверхности по сигналам вторичных и обратно отражённых электронов.
Схема: Метод
Сканирующий электронный микроскоп

Метод

Схема: Диапазон
200 В – 30 кВ

Диапазон

Схема: Образец
Геометрию и подготовку согласуют по методике.

Образец

Схема: Результат
Базовый напольный СЭМ

Результат

Оснастка и подготовка к исследованию

Состав решения подбираем по образцу, методу и задаче. Значки поясняют назначение компонентов.
Схема: Держатели образцов
Подбирают под геометрию и массу.

Держатели образцов

Схема: Вакуумная инфраструктура
Согласуют размещение и обслуживание.

Вакуумная инфраструктура

Схема: Напыление покрытия
Применяют при необходимости для непроводящих образцов.

Напыление покрытия

Схема: Очистка образцов
Выбирают по материалу и методу.

Очистка образцов

Схема: Аналитические приставки
EDS, EBSD и другие системы согласуют для модели и задачи.

Аналитические приставки

От образца к результату электронной микроскопии

Измерение
Обработка
Результат
Образец
Задача
Определяют материал и требуемые данные.
Подготовка
Учитывают форму и состояние образца.
Условия
Выбирают режим по методике.
Сигнал
Регистрируют отклик образца.
Вывод
Сопоставляют результат с задачей.
Оборудование настроено под вашу задачу, а вы получаете стабильный результат
04

Обучение и методика

Обучаем персонал работе по согласованной методике для получения стабильного результата
05

Сервисное сопровождение

Гарантию и сервис согласуем для выбранной конфигурации оборудования.
03

Внедрение и настройка

Поставляем оборудование, запускаем его на площадке и настраиваем под рабочий процесс
02

Проверка применимости

При необходимости проверяем решение на ваших или аналогичных образцах до поставки

Подбор решения

01
Для подбора нужны материал, размеры образца, задача анализа и условия измерения.

Мы отвечаем не только за поставку оборудования

Мы помогаем клиенту пройти весь путь:

Демонстрационная лаборатория

Шлифование
и полирование

Шлифование и полирование
Запрессовка
и заливка

Закрепление образца в смоле
Микроскопия (оптическая и стерео)

Оптическая и стереомикроскопия
Отрезание
образцов

Подбор отрезного диска
Измерение твердости

Измерение твёрдости
Химический анализ (ОЭС)
Оптико-эмиссионный анализ
Проверка задачи и методики исследования
Подбираем конфигурацию прибора и подготовку образца. Доступность измерений и площадку согласуем отдельно.
В собственной лаборатории проверяем доступные методы подготовки и исследования. При необходимости согласуем партнёрскую площадку.

Как проходит проверка решения

С чего начать работу

Передать материал и размеры образца
Указать метод и условия
Сообщить требуемые результаты
Образцы, метод и площадку подбираем по задаче
Тестирование проводится в рамках подбора решения и позволяет заранее оценить результат перед закупкой оборудования

Форматы участия

очно в лаборатории
онлайн с демонстрацией
отчёт с результатами
Получаем образцы или параметры
Согласуем проверку вашей задачи
Фиксируем результат и режимы
Формируем решение и коммерческое предложение

Партнёрская лабораторная база

Компетенции партнёров
Помимо собственной лаборатории, используем партнёрские демонстрационные центры и площадки действующих пользователей оборудования.

Это позволяет увидеть решение в реальных условиях и получить практическую обратную связь. Подходящую площадку и формат проверки подбираем под вашу задачу.
Электронная микроскопия
и анализ структуры
ИНСКАН
Рентгеновский анализ
на действующем оборудовании
СПЕКТРОН
Механические испытания
материалов
Экситон-Тест
Оптико-эмиссионный анализ
на производстве
АКТИВ
Рентгенофазовый и
рентгеноспектральный анализ
Экситон-АНАЛИТИК
IQSCAN W32 — фото поставщика
IQSCAN W32
Сканирующий электронный микроскоп
IQSCAN W33 — фото поставщика
IQSCAN W33
Сканирующий электронный микроскоп
IQSCAN F40 — фото поставщика
IQSCAN F40
Сканирующий электронный микроскоп
IQSCAN F50 — фото поставщика
IQSCAN F50
Сканирующий электронный микроскоп

Другие электронные микроскопы IQSCAN

Модель
IQSCAN W21
Поставщик
ИНСКАН / IQSCAN
Метод
Сканирующий электронный микроскоп
Источник электронов
Термоэмиссионный вольфрамовый катод
Разрешение
3 нм при 30 кВ (SE); 4 нм при 30 кВ (BSE)
Ускоряющее напряжение
200 В – 30 кВ
Увеличение
1–300 000×, включая оптическую навигацию
Столик
Моторизованный по X, Y, Z; 125 × 125 × 50 мм
Максимальный образец
Ø270 × 53 мм; масса до 0,5 кг
Детекторы
SE и четырёхсегментный BSE
Close
Какие материалы необходимо отрезать?
Максимальный размер образца
Сколько образцов в день?
Есть ли отрезной станок сейчас?
Made on
Tilda