• »
  • »
IQSCAN FIB55
Двухлучевая система с электронным пучком и ионной колонной для микроскопии поверхности и локальной обработки образца.
Подробнее
IQSCAN F50
Сканирующий электронный микроскоп с катодом Шоттки для детального исследования поверхности и микроструктуры материалов.
Подробнее
IQSCAN F40
Сканирующий электронный микроскоп с катодом Шоттки для наблюдения морфологии и исследования лабораторных образцов.
Подробнее
IQSCAN W32
Сканирующий электронный микроскоп с вольфрамовым катодом для исследования поверхности и морфологии материалов.
Подробнее
IQSCAN — электронная микроскопия для исследования поверхности и микроструктуры. Системы с вольфрамовым и полевым катодом, а также двухлучевая платформа помогают изучать морфологию и решать задачи микроанализа.
Выбор по структуре образца, требуемому разрешению и задаче исследования. Детекторы, режим вакуума и возможности локального анализа согласуют для конкретной системы.

CIQTEK / IQSCAN

Сканирующие электронные микроскопы

Made on
Tilda