Axio Vert
Инвертированный микроскоп для исследования подготовленных поверхностей металлических образцов в лаборатории материалов.
Axio Observer
Инвертированная исследовательская платформа для металлографии с подбором методов контраста и автоматизации наблюдения.
ZEISS — микроскопия для исследования материалов и контроля качества. Прямые и инвертированные системы помогают изучать структуру, а стереомикроскопы — осматривать детали, поверхности и крупные образцы.
Образец располагается над объективом: удобно исследовать подготовленную поверхность массивных деталей. Оптику, методы контраста и средства документирования выбирают под задачу.
ZEISS
Инвертированные микроскопы
Axio Imager
Прямая исследовательская платформа для микроскопии материалов, сложных методов контраста и автоматизированного анализа.
Axioscope
Прямой микроскоп для лабораторного исследования материалов, наблюдения структуры и документирования изображений.
Axio Lab
Прямой микроскоп для повседневной металлографии и документирования результатов наблюдения подготовленных образцов.
Исследование структуры материалов в отражённом свете. Возможности наблюдения и анализа определяются выбранной конфигурацией микроскопа и программного обеспечения.
Прямые микроскопы
Stemi 508
Стереомикроскоп с плавным изменением увеличения для визуального контроля деталей, поверхности и работы с образцами.
Discovery V8
Модульный стереомикроскоп с ручным зумом для исследования образцов и контроля качества с объёмным восприятием объекта.
Stemi 305
Компактный стереомикроскоп для повседневного осмотра деталей, подготовки проб и визуального контроля.
Объёмное наблюдение деталей и поверхности при небольших увеличениях. Рабочее расстояние, подсветку и камеру подбирают по размеру образца и характеру контроля.
Стереомикроскопы
Оставить заявку
