Отрезные станки
Оборудование для запрессовки
Шлифовально-полировальные станки    
Расходные материалы    
Лабораторная мебель 

Стереоскопические микроскопы (Макроструктура)    
Инвертированные микроскопы (Микроструктура)    
Прямые микроскопы    
Системы макроскопического анализа (Макростенды и ВИМ)    
Программное обеспечение для анализа изображений (ПАК) 

Растровые электронные микроскопы (СЭМ)    
Атомно-силовые микроскопы (АСМ)    
Просвечивающие электронные микроскопы (ПЭМ)    
Пробоподготовка и расходные материалы для электронной микроскопии (напылители, микротомы)

Испытательные машины (растяжение, сжатие, изгиб, кручение)    
Системы для испытаний на ударную вязкость (копер)    
Системы для испытаний на усталость, ползучесть, длительную прочность    
Испытания при повышенных/пониженных температурах    
Измерение твердости (Роквелл, Бринелль, Виккерс, универсальные)    
Автоматические системы измерения отпечатков твердости

Оптико-эмиссионные спектрометры (стационарные ОЭС)    
Портативные анализаторы (ОЭС, ЛИБС, РФА)    
Анализаторы газов (O, N, H) и серы/углерода (CS/ONH)    
Расходные материалы для анализаторов газов
Пробоподготовка для хим. анализа    
ИК-Фурье спектрометры    
Термоаналитические системы (TGA, DTA, DSC, DMA)    
Рентгеноструктурный анализ (XRD)    
Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия (XPS/ESCA)    
Хроматографы    
Спектрометры ЯМР 

Системы безмасковой литографии    
Вакуумное напыление: Магнетроны, MBE-системы    
Плазменные системы: Травление (RIE, ICP), Осаждение (PECVD)    
Системы жидкостной обработки (очистка пластин)    
Контроль топографии: Специализированные СЭМ, АСМ, профилометры    
Пробоподготовка для микроэлектроники